TESTER SCHEDA MADRE A STRATI YCS PER IPHONE X / XS / XS MAX

TESTER SCHEDA MADRE A STRATI YCS PER IPHONE X / XS / XS MAX
Motherboard Layered test frame Y9070401005

Grazie a questo dispositivo, è possibile testare in modo completo tutte le funzionalità della scheda madre (accensione, display, touch, audio, fotocamere, rete, ecc.) senza dover prima eseguire il complesso e delicato processo di reballing e saldatura.
Si posizionano i due strati separati all'interno del telaio, che, tramite un sistema di pin a molla di alta precisione, stabilisce una connessione elettrica temporanea ma affidabile tra di loro.

Questo permette di verificare se una riparazione ha avuto successo prima di unire permanentemente le due schede, risparmiando tempo prezioso, riducendo il rischio di danni da calore ripetuto e aumentando drasticamente la percentuale di successo delle riparazioni. Il design 3-in-1 lo rende estremamente versatile e conveniente, coprendo tre dei modelli di iPhone più diffusi con un unico strumento.

Caratteristiche Principali:

- Un singolo tester è compatibile con le schede madri di iPhone X, iPhone XS e iPhone XS Max.
- Permette di testare le schede madri separate prima del reballing, ottimizzando il flusso di lavoro.
- I pin a molla (sonde) sono realizzati in rame di alta qualità per garantire una conduttività eccellente e un contatto stabile.
- Realizzato con materiali durevoli e resistenti per sopportare l'uso quotidiano in un laboratorio di riparazione.
- Il meccanismo a morsetti laterali permette di bloccare le schede in posizione in modo rapido e sicuro.

Per Apple
iPhone X A1865 A1901 A1902
iPhone XS A1920 A2097 A2098 A2099 A2100
iPhone XS Max A1921 A2101 A2102 A2103 A2104