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TESTER SCHEDA MADRE A STRATI YCS PER IPHONE 13 MINI / 13 / 13 PRO / 13 PRO MAX
| Prezzo: | €188,80 IVA inclusa |
|---|---|
| Spese di trasporto: | A partire da € 5,90 IVA inclusaMaggiori dettagli |
| Cod. art.: | 44327 |
| Tipo Articolo: | Tester |
| Marca Compatibile: | Per Apple iPhone |
| Qualità: | Originale |
| Marca: | YCS |
| Colore: | Standard Produttore |
| Codice Produttore: | Y9070401008 |
| Confezione: | Blister Retail |
| Pagamenti: |
Bonifico | Contrassegno |
| Unità di misura: | PZ |
| Disponibilità: | Disponibile (3 PZ) |
| Quantità: |
Feedback degli utenti
Descrizione
TESTER SCHEDA MADRE A STRATI YCS PER IPHONE 13 MINI / 13 / 13 PRO / 13 PRO MAX
Motherboard Layered test frame Y9070401008
Grazie a questo dispositivo, è possibile testare in modo completo tutte le funzionalità della scheda madre (accensione, display, touch, audio, fotocamere, rete, ecc.) senza dover prima eseguire il complesso e delicato processo di reballing e saldatura.
Si posizionano i due strati separati all'interno del telaio, che, tramite un sistema di pin a molla di alta precisione, stabilisce una connessione elettrica temporanea ma affidabile tra di loro.
Questo permette di verificare se una riparazione ha avuto successo prima di unire permanentemente le due schede, risparmiando tempo prezioso, riducendo il rischio di danni da calore ripetuto e aumentando drasticamente la percentuale di successo delle riparazioni. Il design 4-in-1 lo rende estremamente versatile e conveniente, coprendo tre dei modelli di iPhone più diffusi con un unico strumento.
Caratteristiche Principali:
- Un singolo tester è compatibile con le schede madri di iPhone 13 Mini, iPhone 13, iPhone 13 Pro e iPhone 13 Pro Max.
- Permette di testare le schede madri separate prima del reballing, ottimizzando il flusso di lavoro.
- I pin a molla (sonde) sono realizzati in rame di alta qualità per garantire una conduttività eccellente e un contatto stabile.
- Realizzato con materiali durevoli e resistenti per sopportare l'uso quotidiano in un laboratorio di riparazione.
- Il meccanismo a morsetti laterali permette di bloccare le schede in posizione in modo rapido e sicuro.
Per Apple
iPhone 13 Mini A2628 (2021)
iPhone 13 A2633 (2021)
iPhone 13 Pro A2638 (2021)
iPhone 13 Pro Max A2643 (2021)
Motherboard Layered test frame Y9070401008
Grazie a questo dispositivo, è possibile testare in modo completo tutte le funzionalità della scheda madre (accensione, display, touch, audio, fotocamere, rete, ecc.) senza dover prima eseguire il complesso e delicato processo di reballing e saldatura.
Si posizionano i due strati separati all'interno del telaio, che, tramite un sistema di pin a molla di alta precisione, stabilisce una connessione elettrica temporanea ma affidabile tra di loro.
Questo permette di verificare se una riparazione ha avuto successo prima di unire permanentemente le due schede, risparmiando tempo prezioso, riducendo il rischio di danni da calore ripetuto e aumentando drasticamente la percentuale di successo delle riparazioni. Il design 4-in-1 lo rende estremamente versatile e conveniente, coprendo tre dei modelli di iPhone più diffusi con un unico strumento.
Caratteristiche Principali:
- Un singolo tester è compatibile con le schede madri di iPhone 13 Mini, iPhone 13, iPhone 13 Pro e iPhone 13 Pro Max.
- Permette di testare le schede madri separate prima del reballing, ottimizzando il flusso di lavoro.
- I pin a molla (sonde) sono realizzati in rame di alta qualità per garantire una conduttività eccellente e un contatto stabile.
- Realizzato con materiali durevoli e resistenti per sopportare l'uso quotidiano in un laboratorio di riparazione.
- Il meccanismo a morsetti laterali permette di bloccare le schede in posizione in modo rapido e sicuro.
Per Apple
iPhone 13 Mini A2628 (2021)
iPhone 13 A2633 (2021)
iPhone 13 Pro A2638 (2021)
iPhone 13 Pro Max A2643 (2021)
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