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TESTER SCHEDA MADRE A STRATI YCS PER IPHONE 15 / 15 PLUS / 15 PRO / 15 PRO MAX
| Precio: | €135,90 Inc. IVA |
|---|---|
| Gastos de transporte: | A partir de € 5,90 Inc. IVAMás detalles |
| Cód. art.: | 44329 |
| Tipo de artículo: | Ensayador |
| Marca compatible: | Para Apple iPhone |
| Calidad: | Originales |
| Marca: | YCS |
| Color: | Estándar del fabricante |
| Código del fabricante: | Y9070401012 |
| Embalaje: | Blister al por menor |
| Pagos: |
|
| Unidad de medida: | PZ |
| Disponibilidad: | Llegando |
| Cantidad: |
Servicios
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Descripción
TESTER SCHEDA MADRE A STRATI YCS PER IPHONE 15 / 15 PLUS / 15 PRO / 15 PRO MAX
Motherboard Layered test frame Y9070401012
Grazie a questo dispositivo, è possibile testare in modo completo tutte le funzionalità della scheda madre (accensione, display, touch, audio, fotocamere, rete, ecc.) senza dover prima eseguire il complesso e delicato processo di reballing e saldatura.
Si posizionano i due strati separati all'interno del telaio, che, tramite un sistema di pin a molla di alta precisione, stabilisce una connessione elettrica temporanea ma affidabile tra di loro.
Questo permette di verificare se una riparazione ha avuto successo prima di unire permanentemente le due schede, risparmiando tempo prezioso, riducendo il rischio di danni da calore ripetuto e aumentando drasticamente la percentuale di successo delle riparazioni. Il design 4-in-1 lo rende estremamente versatile e conveniente, coprendo tre dei modelli di iPhone più diffusi con un unico strumento.
Caratteristiche Principali:
- Un singolo tester è compatibile con le schede madri di iPhone 15, iPhone 15 Plus, iPhone 15 Pro e iPhone 15 Pro Max.
- Permette di testare le schede madri separate prima del reballing, ottimizzando il flusso di lavoro.
- I pin a molla (sonde) sono realizzati in rame di alta qualità per garantire una conduttività eccellente e un contatto stabile.
- Realizzato con materiali durevoli e resistenti per sopportare l'uso quotidiano in un laboratorio di riparazione.
- Il meccanismo a morsetti laterali permette di bloccare le schede in posizione in modo rapido e sicuro.
Per Apple
iPhone 15 A3090 A2846 A3089 A3092 (2023)
iPhone 15 Plus A3094 A2847 A3093 A3096 (2023)
iPhone 15 Pro A2848 A3101 A3102 A3104 (2023)
iPhone 15 Pro Max A2849 A3105 A3106 A3108 (2023)
Motherboard Layered test frame Y9070401012
Grazie a questo dispositivo, è possibile testare in modo completo tutte le funzionalità della scheda madre (accensione, display, touch, audio, fotocamere, rete, ecc.) senza dover prima eseguire il complesso e delicato processo di reballing e saldatura.
Si posizionano i due strati separati all'interno del telaio, che, tramite un sistema di pin a molla di alta precisione, stabilisce una connessione elettrica temporanea ma affidabile tra di loro.
Questo permette di verificare se una riparazione ha avuto successo prima di unire permanentemente le due schede, risparmiando tempo prezioso, riducendo il rischio di danni da calore ripetuto e aumentando drasticamente la percentuale di successo delle riparazioni. Il design 4-in-1 lo rende estremamente versatile e conveniente, coprendo tre dei modelli di iPhone più diffusi con un unico strumento.
Caratteristiche Principali:
- Un singolo tester è compatibile con le schede madri di iPhone 15, iPhone 15 Plus, iPhone 15 Pro e iPhone 15 Pro Max.
- Permette di testare le schede madri separate prima del reballing, ottimizzando il flusso di lavoro.
- I pin a molla (sonde) sono realizzati in rame di alta qualità per garantire una conduttività eccellente e un contatto stabile.
- Realizzato con materiali durevoli e resistenti per sopportare l'uso quotidiano in un laboratorio di riparazione.
- Il meccanismo a morsetti laterali permette di bloccare le schede in posizione in modo rapido e sicuro.
Per Apple
iPhone 15 A3090 A2846 A3089 A3092 (2023)
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