TESTER SCHEDA MADRE A STRATI YCS PER IPHONE 17 / 17 AIR / 17 PRO / 17 PRO MAX

TESTER SCHEDA MADRE A STRATI YCS PER IPHONE 17 / 17 AIR / 17 PRO / 17 PRO MAX
Motherboard Layered test frame Y9070401021

Grazie a questo dispositivo, è possibile testare in modo completo tutte le funzionalità della scheda madre (accensione, display, touch, audio, fotocamere, rete, ecc.) senza dover prima eseguire il complesso e delicato processo di reballing e saldatura.
Si posizionano i due strati separati all'interno del telaio, che, tramite un sistema di pin a molla di alta precisione, stabilisce una connessione elettrica temporanea ma affidabile tra di loro.

Questo permette di verificare se una riparazione ha avuto successo prima di unire permanentemente le due schede, risparmiando tempo prezioso, riducendo il rischio di danni da calore ripetuto e aumentando drasticamente la percentuale di successo delle riparazioni. Il design 4-in-1 lo rende estremamente versatile e conveniente, coprendo tre dei modelli di iPhone più diffusi con un unico strumento.

Caratteristiche Principali:

- Un singolo tester è compatibile con le schede madri di iPhone 17, iPhone 17 Air, iPhone 17 Pro e iPhone 17 Pro Max.
- Permette di testare le schede madri separate prima del reballing, ottimizzando il flusso di lavoro.
- I pin a molla (sonde) sono realizzati in rame di alta qualità per garantire una conduttività eccellente e un contatto stabile.
- Realizzato con materiali durevoli e resistenti per sopportare l'uso quotidiano in un laboratorio di riparazione.
- Il meccanismo a morsetti laterali permette di bloccare le schede in posizione in modo rapido e sicuro.

Per Apple
iPhone 17 A3519 A3520 A3521 A3258 (2025)
iPhone 17 Pro A3522 A3523 A3524 A3256 (2025)
iPhone 17 Pro Max A3525 A3526 A3527 A3257 (2025)
iPhone 17 Air A3516 A3517 A3518 A3260 (2025)