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TESTER SCHEDA MADRE A STRATI YCS PER IPHONE 12 MINI / 12 / 12 PRO / 12 PRO MAX
| Preis: | €152,70 Mit MwSt |
|---|---|
| Transportkosten: | Ab € 5,90 Mit MwStWeitere Details |
| Art.-Nr.: | 44326 |
| Art des Artikels: | Tester |
| Kompatible Marke: | Für Apple iPhone |
| Qualität: | Original |
| Marke: | YCS |
| Farbe: | Hersteller Standard |
| Hersteller Code: | Y9070401007 |
| Verpackung: | Einzelhandelsblister |
| Zahlungen: |
|
| Maßeinheit: | PZ |
| Verfügbarkeit: | Verfügbar (1 PZ) |
| Menge: |
Feedbacks von Benutzern
Beschreibung
TESTER SCHEDA MADRE A STRATI YCS PER IPHONE 12 MINI / 12 / 12 PRO / 12 PRO MAX
Motherboard Layered test frame Y9070401007
Grazie a questo dispositivo, è possibile testare in modo completo tutte le funzionalità della scheda madre (accensione, display, touch, audio, fotocamere, rete, ecc.) senza dover prima eseguire il complesso e delicato processo di reballing e saldatura.
Si posizionano i due strati separati all'interno del telaio, che, tramite un sistema di pin a molla di alta precisione, stabilisce una connessione elettrica temporanea ma affidabile tra di loro.
Questo permette di verificare se una riparazione ha avuto successo prima di unire permanentemente le due schede, risparmiando tempo prezioso, riducendo il rischio di danni da calore ripetuto e aumentando drasticamente la percentuale di successo delle riparazioni. Il design 4-in-1 lo rende estremamente versatile e conveniente, coprendo tre dei modelli di iPhone più diffusi con un unico strumento.
Caratteristiche Principali:
- Un singolo tester è compatibile con le schede madri di iPhone 12 Mini, iPhone 12, iPhone 12 Pro e iPhone 12 Pro Max.
- Permette di testare le schede madri separate prima del reballing, ottimizzando il flusso di lavoro.
- I pin a molla (sonde) sono realizzati in rame di alta qualità per garantire una conduttività eccellente e un contatto stabile.
- Realizzato con materiali durevoli e resistenti per sopportare l'uso quotidiano in un laboratorio di riparazione.
- Il meccanismo a morsetti laterali permette di bloccare le schede in posizione in modo rapido e sicuro.
Per Apple
iPhone 12 Mini A2176 A2398 A2400 A2399 (2020)
iPhone 12 A2403 A2172 A2402 A2404 (2020)
iPhone 12 Pro A2407 A2341 A2406 A2408 (2020)
iPhone 12 Pro Max A2342 A2410 A2412 A2411 (2020)
Motherboard Layered test frame Y9070401007
Grazie a questo dispositivo, è possibile testare in modo completo tutte le funzionalità della scheda madre (accensione, display, touch, audio, fotocamere, rete, ecc.) senza dover prima eseguire il complesso e delicato processo di reballing e saldatura.
Si posizionano i due strati separati all'interno del telaio, che, tramite un sistema di pin a molla di alta precisione, stabilisce una connessione elettrica temporanea ma affidabile tra di loro.
Questo permette di verificare se una riparazione ha avuto successo prima di unire permanentemente le due schede, risparmiando tempo prezioso, riducendo il rischio di danni da calore ripetuto e aumentando drasticamente la percentuale di successo delle riparazioni. Il design 4-in-1 lo rende estremamente versatile e conveniente, coprendo tre dei modelli di iPhone più diffusi con un unico strumento.
Caratteristiche Principali:
- Un singolo tester è compatibile con le schede madri di iPhone 12 Mini, iPhone 12, iPhone 12 Pro e iPhone 12 Pro Max.
- Permette di testare le schede madri separate prima del reballing, ottimizzando il flusso di lavoro.
- I pin a molla (sonde) sono realizzati in rame di alta qualità per garantire una conduttività eccellente e un contatto stabile.
- Realizzato con materiali durevoli e resistenti per sopportare l'uso quotidiano in un laboratorio di riparazione.
- Il meccanismo a morsetti laterali permette di bloccare le schede in posizione in modo rapido e sicuro.
Per Apple
iPhone 12 Mini A2176 A2398 A2400 A2399 (2020)
iPhone 12 A2403 A2172 A2402 A2404 (2020)
iPhone 12 Pro A2407 A2341 A2406 A2408 (2020)
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